Đặc điểm của màng mỏng quang học

Đặc tính của màng mỏng quang học bao gồm đặc tính của các tính chất quang học, các thông số quang học và các tính chất phi quang học, các tính chất quang học chủ yếu đề cập đến các tính chất phản xạ quang phổ, truyền qua và mất mát quang học (mất mát hấp thụ và mất mát phản xạ) của màng mỏng quang học. Độ truyền qua và phản xạ là các tính chất quang học cơ bản nhất của màng mỏng quang học, vì vậy việc thử nghiệm độ truyền qua và phản xạ của màng mỏng là kỹ thuật thử nghiệm cơ bản đối với màng mỏng quang học. Các thông số quang học của màng mỏng quang học bao gồm chiết suất, hệ số hấp thụ và độ dày màng của màng mỏng quang học. Do độ lệch về thành phần vật liệu của màng mỏng quang học được chuẩn bị theo quy trình thực tế, cấu trúc không còn đồng nhất và dày đặc nữa, mà có các cấu trúc vi mô và các khuyết tật khác nhau, lớp màng điện môi không còn hoàn toàn trong suốt nữa, và có sự hấp thụ yếu, trong khi có sự không đồng đều về không gian và dị hướng pha trong chiết suất của màng, và màng không còn là giao diện vô hạn và trơn tru nữa. Quan trọng hơn, trong quá trình chuẩn bị thực tế, các thông số quy trình chuẩn bị phim có tác động rất lớn đến các thông số quang học của phim, vì vậy việc xác nhận thời gian thực các thông số quang học của phim là rất quan trọng. Ngoài ra, màng mỏng quang học là một thiết bị được sử dụng trong môi trường thực tế, ngoài các đặc điểm quang học của thiết bị cần đáp ứng các yêu cầu, màng còn có nhiều đặc điểm phi quang học quan trọng khác ảnh hưởng đến việc sử dụng màng, chẳng hạn như độ bám dính của màng, ứng suất màng, độ cứng và độ nhám bề mặt của màng và khả năng chịu được môi trường của màng, v.v. Do đó, điều quan trọng là phải đo chính xác tất cả các thông số hoặc đặc điểm khác nhau ảnh hưởng đến việc sử dụng các thiết bị màng mỏng.

Độ truyền qua và độ phản xạ của màng mỏng chủ yếu được thử nghiệm bằng máy phân tích thử nghiệm quang phổ. Máy phân tích quang phổ để thử nghiệm màng quang học có thể được chia thành máy quang phổ UV-Vis, máy quang phổ hồng ngoại và máy quang phổ Fourier hồng ngoại theo các dải thử nghiệm khác nhau. Hai loại đầu tiên sử dụng nguyên lý phân tích và thử nghiệm quang phổ, loại sau dựa trên nguyên lý hệ thống phân tích quang phổ giao thoa. Do cấu trúc hình học và hình dạng khác nhau của các thiết bị màng mỏng, mặc dù tất cả các phép đo độ truyền qua và phản xạ, nhưng đối với các hình dạng khác nhau, độ chính xác khác nhau hoặc các yêu cầu phân cực khác nhau, có thể yêu cầu các phương pháp và kỹ thuật thử nghiệm khác nhau.

– Bài viết này được phát hành bởinhà sản xuất máy phủ chân khôngQuảng Đông Chấn Hoa