ऑप्टिकल पतली फिल्मों का लक्षण वर्णन

ऑप्टिकल पतली फिल्म के लक्षण वर्णन में ऑप्टिकल गुण, ऑप्टिकल पैरामीटर और गैर-ऑप्टिकल गुणों का लक्षण वर्णन शामिल है। ऑप्टिकल गुणों से तात्पर्य मुख्य रूप से ऑप्टिकल पतली फिल्म के स्पेक्ट्रल परावर्तन, संचरण और ऑप्टिकल हानि (अवशोषण हानि और परावर्तन हानि) से है। संचरण और परावर्तन ऑप्टिकल पतली फिल्मों के सबसे मूलभूत ऑप्टिकल गुण हैं, इसलिए पतली फिल्म के संचरण और परावर्तन का परीक्षण ऑप्टिकल पतली फिल्मों के लिए बुनियादी परीक्षण तकनीक है। ऑप्टिकल पतली फिल्म के ऑप्टिकल पैरामीटर में अपवर्तनांक, अवशोषण गुणांक और फिल्म की मोटाई शामिल हैं। वास्तविक प्रक्रिया द्वारा तैयार की गई ऑप्टिकल पतली फिल्म के भौतिक घटकों में स्टोइकोमेट्रिक विचलन के कारण, संरचना अब समरूप और सघन नहीं रहती है, बल्कि इसमें सूक्ष्म संरचनाएं और विभिन्न दोष होते हैं, परावैद्युत फिल्म परत अब पूरी तरह से पारदर्शी नहीं रहती है, और इसमें कमजोर अवशोषण होता है, साथ ही फिल्म के अपवर्तनांक में स्थानिक गैर-समानता और चरण विषमता होती है, और फिल्म अब एक अनंत और चिकनी सतह नहीं रहती है। इससे भी अधिक महत्वपूर्ण बात यह है कि वास्तविक निर्माण प्रक्रिया में, फिल्म निर्माण प्रक्रिया के मापदंड फिल्म के प्रकाशीय मापदंडों पर बहुत अधिक प्रभाव डालते हैं, इसलिए फिल्म के प्रकाशीय मापदंडों की वास्तविक समय में पुष्टि करना अत्यंत महत्वपूर्ण है। इसके अतिरिक्त, वास्तविक वातावरण में उपयोग किए जाने वाले ऑप्टिकल थिन फिल्म उपकरण के प्रकाशीय गुणों के अलावा, फिल्म के उपयोग को प्रभावित करने वाले कई अन्य महत्वपूर्ण गैर-प्रकाशीय गुण भी होते हैं, जैसे कि फिल्म का आसंजन, फिल्म का तनाव, फिल्म की कठोरता और सतह की खुरदरापन, और फिल्म की पर्यावरणीय सहनशीलता आदि। इसलिए, थिन फिल्म उपकरणों के उपयोग को प्रभावित करने वाले सभी विभिन्न मापदंडों या गुणों का सटीक मापन करना महत्वपूर्ण है।

पतली फिल्मों की पारगम्यता और परावर्तनशीलता का परीक्षण मुख्य रूप से स्पेक्ट्रल परीक्षण विश्लेषकों का उपयोग करके किया जाता है। ऑप्टिकल फिल्म परीक्षण के लिए स्पेक्ट्रल विश्लेषकों को विभिन्न परीक्षण बैंडों के अनुसार यूवी-विज़ स्पेक्ट्रोफोटोमीटर, इन्फ्रारेड स्पेक्ट्रोफोटोमीटर और इन्फ्रारेड फूरियर स्पेक्ट्रोमीटर में विभाजित किया जा सकता है। पहले दो स्पेक्ट्रल स्पेक्ट्रोस्कोपी के विश्लेषण और परीक्षण प्रणाली के सिद्धांत का उपयोग करते हैं, जबकि तीसरा व्यतिकरण स्पेक्ट्रल विश्लेषण प्रणाली के सिद्धांत पर आधारित है। पतली फिल्म उपकरणों की विभिन्न ज्यामितीय संरचनाओं और आकृतियों के कारण, यद्यपि सभी पारगम्यता और परावर्तनशीलता मापन एक समान होते हैं, लेकिन विभिन्न आकृतियों, अलग-अलग परिशुद्धता या अलग-अलग ध्रुवीकरण आवश्यकताओं के लिए, विभिन्न परीक्षण विधियों और तकनीकों की आवश्यकता हो सकती है।

–यह लेख द्वारा प्रकाशित किया गया हैवैक्यूम कोटिंग मशीन निर्मातागुआंग्डोंग झेंहुआ