Pencirian filem nipis optik termasuk pencirian sifat optik, parameter optik dan sifat bukan optik, sifat optik terutamanya merujuk kepada pemantulan spektrum, penghantaran dan kehilangan optik (kehilangan penyerapan dan kehilangan pantulan) sifat filem nipis optik. Pemindahan dan pemantulan adalah sifat optik paling asas bagi filem nipis optik, jadi ujian pemancaran dan pemantulan filem nipis adalah teknik ujian asas untuk filem nipis optik. Parameter optik filem nipis optik termasuk indeks biasan, pekali penyerapan dan ketebalan filem filem nipis optik. Oleh kerana sisihan stoikiometrik dalam komponen bahan filem nipis optik yang disediakan oleh proses sebenar, strukturnya tidak lagi homogen dan padat, tetapi terdapat struktur mikro dan pelbagai kecacatan, lapisan filem dielektrik tidak lagi telus sepenuhnya, dan terdapat penyerapan yang lemah, manakala terdapat ketidakseragaman ruang dan fasa anisotropi dalam filem yang tidak lagi licin, anisotropi fasa dan filem tidak lagi telus, antara muka. Lebih penting lagi, dalam proses penyediaan sebenar, parameter proses penyediaan filem mempunyai kesan yang sangat besar pada parameter optik filem, jadi pengesahan masa nyata parameter optik filem adalah sangat kritikal. Di samping itu, filem nipis optik sebagai peranti yang digunakan dalam persekitaran sebenar, sebagai tambahan kepada ciri-ciri optik peranti perlu memenuhi keperluan, filem itu terdapat banyak lagi ciri-ciri bukan optik penting lain yang mempengaruhi penggunaan filem, seperti lekatan filem, tekanan filem, kekerasan filem dan kekasaran permukaan dan keupayaan filem untuk menahan persekitaran dan sebagainya. Oleh itu, adalah penting untuk mengukur dengan tepat semua pelbagai parameter atau ciri yang mempengaruhi penggunaan peranti filem nipis.
Pemindahan dan pemantulan filem nipis terutamanya diuji menggunakan penganalisis ujian spektrum. Penganalisis spektrum untuk ujian filem optik boleh dibahagikan kepada spektrofotometer UV-Vis, spektrofotometer inframerah dan spektrometer Fourier inframerah mengikut jalur ujian yang berbeza. Dua yang pertama menggunakan prinsip spektroskopi spektrum analisis dan sistem ujian, yang kedua berdasarkan prinsip gangguan sistem analisis spektrum. Disebabkan oleh struktur dan bentuk geometri peranti filem nipis yang berbeza, walaupun semua ukuran pemancaran dan pemantulan, tetapi untuk bentuk yang berbeza, ketepatan yang berbeza atau keperluan polarisasi yang berbeza, mungkin memerlukan kaedah dan teknik ujian yang berbeza.
–Artikel ini dikeluarkan olehpengeluar mesin salutan vakumGuangdong Zhenhua
Masa siaran: Nov-03-2023