Inspectio pelliculae tenuis opticae inspiciendas proprietates opticas, parametros opticos, et proprietates non-opticas complectitur; proprietates opticae praecipue ad reflectantiam spectralem, transmittantiam, et iacturam opticam (iacturam absorptionis et iacturam reflexionis) pelliculae tenuis opticae pertinent. Transmittantia et reflectantia proprietates opticae fundamentalissimae pellicularum tenuium opticarum sunt, ergo probatio transmittantiae et reflectantiae pelliculae tenuis est ars probationis fundamentalis pro pelliculis tenuibus opticis. Parametri optici pelliculae tenuis opticae includunt indicem refractionis, coefficientem absorptionis, et crassitudinem pelliculae tenuis opticae. Propter deviationem stoichiometricam in componentibus materialibus pelliculae tenuis opticae per processum actualem praeparatae, structura non iam homogenea et densa est, sed microstructurae et varia vitia apparent, stratum pelliculae dielectricae non iam omnino pellucidum est, et absorptio debilis est, dum non-uniformitas spatialis et anisotropia phasis in indice refractionis pelliculae apparent, et pellicula non iam interfaciem infinitam et lenem habet. Magis autem interest quod, in ipso processu praeparationis, parametri processus praeparationis pelliculae maximum momentum in parametros opticos pelliculae habent, itaque confirmatio in tempore reali parametrorum opticorum pelliculae maximi momenti est. Accedit quod pellicula tenuis optica, ut instrumentum in ambitu reali adhibitum, praeter proprietates opticas instrumenti requisitis satisfacere debet, multae aliae proprietates non-opticae magni momenti in pellicula sunt quae usum pelliculae afficiunt, ut adhaesio pelliculae, tensio pelliculae, durities et asperitas superficiei pelliculae, et facultas pelliculae ad ambientes tolerandos, et cetera. Quapropter interest accurate metiri omnes varios parametros vel proprietates quae usum instrumentorum pelliculae tenuis afficiunt.
Transmittantia et reflectantia pellicularum tenuium praecipue per analysores spectrales probantur. Analysores spectrales ad pelliculas opticas probandas in spectrophotometra UV-Vis, spectrophotometra infrarubra et spectrometra Fourier infrarubra secundum diversas zonas probationis dividi possunt. Prima duo principio spectroscopiae spectralis analysis et systematis probationis utuntur, posterior principio systematis interferentiae spectralis analysis innititur. Propter diversas structuras geometricas et formas instrumentorum pellicularum tenuium, quamvis omnes mensurae transmittantiae et reflectantiae, tamen pro diversis formis, diversa praecisione vel diversis requisitis polarizationis, diversas methodos et technicas probationis requirere possunt.
–Hic articulus editus est abFabricator machinae ad obducendum vacuumGuangdong Zhenhua
Tempus publicationis: III Non. Nov. MMXXIII