ऑप्टिकल पतली फिल्म के लक्षण वर्णन में ऑप्टिकल गुण, ऑप्टिकल पैरामीटर और गैर-ऑप्टिकल गुणों का लक्षण वर्णन शामिल है, ऑप्टिकल गुण मुख्य रूप से ऑप्टिकल पतली फिल्म के वर्णक्रमीय परावर्तन, संप्रेषण और ऑप्टिकल हानि (अवशोषण हानि और परावर्तन हानि) गुणों को संदर्भित करते हैं। संप्रेषण और परावर्तन ऑप्टिकल पतली फिल्मों के सबसे बुनियादी ऑप्टिकल गुण हैं, इसलिए पतली फिल्म संप्रेषण और परावर्तन का परीक्षण ऑप्टिकल पतली फिल्मों के लिए बुनियादी परीक्षण तकनीक है। ऑप्टिकल पतली फिल्म के ऑप्टिकल मापदंडों में ऑप्टिकल पतली फिल्म का अपवर्तनांक, अवशोषण गुणांक और फिल्म की मोटाई शामिल है। वास्तविक प्रक्रिया द्वारा तैयार ऑप्टिकल पतली फिल्म के सामग्री घटकों में स्टोइकोमेट्रिक विचलन के कारण, संरचना अब सजातीय और घनी नहीं है, लेकिन माइक्रोस्ट्रक्चर और विभिन्न दोष हैं, ढांकता हुआ फिल्म परत अब पूरी तरह से पारदर्शी नहीं है, और एक कमजोर अवशोषण है, जबकि फिल्म के अपवर्तनांक में स्थानिक गैर-एकरूपता और चरण अनिसोट्रॉपी हैं, और फिल्म अब एक अनंत और चिकनी इंटरफ़ेस नहीं है। इससे भी महत्वपूर्ण बात यह है कि वास्तविक तैयारी प्रक्रिया में, फिल्म तैयारी प्रक्रिया मापदंडों का फिल्म के ऑप्टिकल मापदंडों पर बहुत बड़ा प्रभाव पड़ता है, इसलिए फिल्म के ऑप्टिकल मापदंडों की वास्तविक समय की पुष्टि बहुत महत्वपूर्ण है। इसके अलावा, वास्तविक वातावरण में उपयोग किए जाने वाले उपकरण के रूप में ऑप्टिकल पतली फिल्म, उपकरण की ऑप्टिकल विशेषताओं के अलावा फिल्म की आवश्यकताओं को पूरा करने की आवश्यकता होती है, फिल्म में कई अन्य महत्वपूर्ण गैर-ऑप्टिकल विशेषताएं हैं जो फिल्म के उपयोग को प्रभावित करती हैं, जैसे फिल्म आसंजन, फिल्म तनाव, फिल्म कठोरता और सतह खुरदरापन और फिल्म की पर्यावरण का सामना करने की क्षमता आदि। इसलिए, पतली फिल्म उपकरणों के उपयोग को प्रभावित करने वाले सभी विभिन्न मापदंडों या विशेषताओं को सटीक रूप से मापना महत्वपूर्ण है।
पतली फिल्मों के संप्रेषण और परावर्तन का परीक्षण मुख्य रूप से वर्णक्रमीय परीक्षण विश्लेषकों का उपयोग करके किया जाता है। ऑप्टिकल फिल्म परीक्षण के लिए स्पेक्ट्रल विश्लेषकों को अलग-अलग परीक्षण बैंड के अनुसार यूवी-विज़ स्पेक्ट्रोफोटोमीटर, इन्फ्रारेड स्पेक्ट्रोफोटोमीटर और इन्फ्रारेड फूरियर स्पेक्ट्रोमीटर में विभाजित किया जा सकता है। पहले दो विश्लेषण और परीक्षण प्रणाली के स्पेक्ट्रल स्पेक्ट्रोस्कोपी सिद्धांत का उपयोग करते हैं, बाद वाले हस्तक्षेप स्पेक्ट्रल विश्लेषण प्रणाली के सिद्धांत पर आधारित हैं। पतली फिल्म उपकरणों की विभिन्न ज्यामितीय संरचनाओं और आकृतियों के कारण, हालांकि सभी संप्रेषण और परावर्तन माप, लेकिन विभिन्न आकृतियों, विभिन्न परिशुद्धता या विभिन्न ध्रुवीकरण आवश्यकताओं के लिए, विभिन्न परीक्षण विधियों और तकनीकों की आवश्यकता हो सकती है।
-यह लेख द्वारा जारी किया गया हैवैक्यूम कोटिंग मशीन निर्मातागुआंग्डोंग झेंहुआ
पोस्ट करने का समय: नवम्बर-03-2023